Partikula-azeleragailuei zuzendutako diagnostiko eta kontrol teknika aurreratuak
dc.contributor.author | Badillo Fernandez, Inari | eus |
dc.date.accessioned | 2024-11-27T11:49:06Z | |
dc.date.available | 2024-11-27T11:49:06Z | |
dc.description.abstract | Lan honek partikula-azeleragailuei zuzenduriko diagnostiko eta kontrolerako teknika aurreratuakaukezten ditu.Alde batetik, sorta-posizioaren monitorea (BPM, Beam Postion Monitor ingelesez)deritzon diagnostiko tresna baten garapena eta horrekin egindako saiakerak deslribatzen dira. Bestetik,maila baxuko RF (LLRF, Low Level-RF ingelesez) izeneko kontrol sistema digital baten garapena etahura balidatzeko laborategi-montaia aurkezten da.Honekin batera, seinale azkarrak lagintzeak etaprozesatzeak dakarren kostua arintzeko, azpilaginketa izeneko teknika berritzailea eta berarekin lanegiteko garatutako metodologia aurkezten da. | eus |
dc.description.abstract | In this paper, advanced techniques for diagnostics and control applied in particle accelerators arepresented. On the one hand, the developmnet of a diagnostics tool known as Beam Position Monitor orBPM is presented, along with several experiments. On the other, a digital Low Level-RF or LLRF controlsystem and the corresponding testbench for its validation is described.On top of that, an advancedsampling technique known as undersampling is described and used in the presented applications in orderto deal with the cost-related drawbacks of the sampling of fast signals. | en |
dc.identifier.doi | https://dx.doi.org/10.26876/ikergazte.i.77 | |
dc.identifier.other | production.37404 | |
dc.identifier.uri | https://gordailua.ueu.eus/handle/123456789/2196 | |
dc.relation.ispartof | I. Ikergazte: Nazioarteko ikerketa euskaraz. Kongresuko artikulu-bilduma | |
dc.subject | azpilaginketa | eus |
dc.subject | data-eskuratze azkarra | eus |
dc.subject | BPM | eus |
dc.subject | LLRF | eus |
dc.subject | undersampling | en |
dc.subject | fast data acquisition | en |
dc.subject | BPM,LLRF | en |
dc.subject.other | Fisika | eus |
dc.subject.other | Teknologia | eus |
dc.title | Partikula-azeleragailuei zuzendutako diagnostiko eta kontrol teknika aurreratuak | eus |
dc.type | introduction | en |